1895年，德国生物学家在研究过程中发现了x射线；1990年，人们逐渐使用x射线检测对象；1922年，美国成立了第一个x射线实验室；1987年，中国逐步引进了检测技术。虽然我国检测技术的探索起步较晚，但经过几十年的努力，与一些西方国家的距离也越来越小。

无损检测技术是一种非破坏性检测，是物理或有机化学信息信息的监测和测试标准，以获得与检测目标质量相关的内容、特性或组件，而不破坏或损害检测目标的性能指标和物理性质。

该检测技术广泛应用于IC芯片、IGBT半导体材料等新型高精度检测项目。它可以在不拆卸或损坏设备的情况下快速检测货物的内部结构。随着行业市场对产品质量的需求越来越高，检测技术也进入了快速发展的环节。

近年来，我国